SUTEAQM**帽沖擊試驗機

SUTEAQM**帽沖(chong)擊(ji)試驗機(ji)產品簡介(jie)
**帽(mao)沖擊(ji)試驗(yan)機是(shi)全觸摸屏PLC控制，自動(dong)打印及數據(ju)保存功能(neng)，專門用于(yu)測試各(ge)種(zhong)建筑(zhu)、煤炭等行業(ye)人體佩(pei)帶用**帽(mao)的(de)抗沖擊(ji)性能(neng)。本(ben)產(chan)品廣泛應(ying)用于(yu)各(ge)**帽(mao)的(de)生產(chan)、檢驗(yan)、監(jian)督、研究及使用單(dan)位。
**帽(mao)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗機測定**帽(mao)抗(kang)沖(chong)擊(ji)性(xing)能時(shi)，將戴好(hao)**帽(mao)的(de)(de)特制人頭模型(xing)放(fang)置在(zai)高靈敏(min)度的(de)(de)傳感器(qi)上，然后用規定質(zhi)量(liang)的(de)(de)鐵錘（5KG）從1m的(de)(de)高度進行沖(chong)擊(ji)，并由(you)高靈敏(min)度的(de)(de)力量(liang)感應裝置測出(chu)沖(chong)擊(ji)瞬間的(de)(de)力值(zhi)，從而判斷**帽(mao)沖(chong)擊(ji)吸收性(xing)能的(de)(de)好(hao)壞。
**帽沖(chong)擊試(shi)驗(yan)機測定(ding)(ding)**帽的耐(nai)穿(chuan)透試(shi)驗(yan)時，先(xian)將頭(tou)(tou)模固(gu)定(ding)(ding)在基座上，使頭(tou)(tou)模與穿(chuan)刺(ci)錘及電接觸(chu)顯(xian)示裝置形成一個閉合電路，然后用(yong)穿(chuan)刺(ci)錘（3KG）從(cong)1m高(gao)度下落(luo)穿(chuan)刺(ci)**帽，穿(chuan)刺(ci)后觀(guan)察電接觸(chu)顯(xian)示裝置，判定(ding)(ding)**帽的耐(nai)穿(chuan)透性能的好(hao)壞。
詳細介紹(shao)
產品介(jie)紹：
**帽沖擊試驗機專(zhuan)門(men)用(yong)于測試各種建筑、煤(mei)炭(tan)等行業人體佩帶用(yong)**帽(mao)的抗沖擊性(xing)能。本(ben)產品廣泛(fan)應用(yong)于各**帽(mao)的生(sheng)產、檢驗、監督、研(yan)究及(ji)使用(yong)單位(wei)。
**帽(mao)(mao)(mao)沖(chong)擊試驗機測(ce)定(ding)**帽(mao)(mao)(mao)抗沖(chong)擊性能時(shi)，將戴好(hao)**帽(mao)(mao)(mao)的(de)特制人頭模(mo)型放(fang)置在(zai)高(gao)靈敏(min)度的(de)傳感器(qi)上，然后用(yong)規定(ding)質量(liang)的(de)鐵錘（5KG）從(cong)1m的(de)高(gao)度進行沖(chong)擊，并由高(gao)靈敏(min)度的(de)力量(liang)感應(ying)裝置測(ce)出沖(chong)擊瞬間的(de)力值，從(cong)而(er)判斷**帽(mao)(mao)(mao)沖(chong)擊吸收性能的(de)好(hao)壞。
**帽沖擊試驗(yan)機測定(ding)**帽的(de)耐(nai)穿透試驗(yan)時，先將頭(tou)模固(gu)定(ding)在基座(zuo)上，使頭(tou)模與穿刺(ci)錘(chui)及電(dian)接(jie)觸(chu)顯示裝(zhuang)置形成(cheng)一個(ge)閉合電(dian)路，然后(hou)(hou)用(yong)穿刺(ci)錘(chui)（3KG）從(cong)1m高度(du)下落穿刺(ci)**帽，穿刺(ci)后(hou)(hou)觀察電(dian)接(jie)觸(chu)顯示裝(zhuang)置，判定(ding)**帽的(de)耐(nai)穿透性能(neng)的(de)好壞。
**帽沖擊試驗機執行標準：本(ben)產品(pin)符合GB/T2811**帽；GB/T2812、ISO3847、GB/T10000標準對試驗設備的要求(qiu)。
**帽沖擊試驗機技術參數：
1、沖錘重量：5 kg
2、穿刺(ci)錘重量：3kg
3、沖頭：半(ban)球形，R48mm
4、穿刺錘：錐形60°
5、下落速度誤差：小(xiao)于0.5%
6、沖(chong)擊高度：1m
7、頭模(mo)：1號和2號各一個
8、沖擊形式：導向下落
9、測力范圍：0~50000N
10、連續采樣時間：不低于(yu)40ms
11、分辨率(lv)：1N
12、采樣頻率：不低(di)于20k HZ

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